如何测试瞬态响应
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     电源产品的瞬态响应测试有多种测试方法。其中,有利用电子负载的动态测试功能来实现的方法。可是如何公司的电子负载没有这样的功能,或者还想实现某些特别的测试,那么也可以采用本文中描述的方法。该方法由我公司雨来科技技术部提供(http://www.yulai-tech.com)。
1、NMOS + PMOS inverter structure
     PMOS 和NMOS 以反相器联结。信号发生器提供控制信号以控制NMOS和PMOS的栅极。PMOS源接较高的电压,NMOS源接较低电压。电阻和电容用于优化瞬时波形:电阻R1改善电压过冲,两个电解电容C1和C2用来过滤输出电压。
     图 1 为实际原理图. U1 是一个双N & P-通道的场效应管。
     图 2 以AAT1146为例。设置为C1=2200uF,C2=10Uf,R1=0.5Ω。
     测量条件是:Vin=3.6V~4.2V,Vout=1.8V, ILoad = 400mA。图2中, channel 1 是 Vin, Channel 2 是 Vout (AC)。
图1: NMOS+PMOS inverter structure
图2: AAT1146 Line Transient Response using method 1
2、Diode + NMOS structure
图3 是另外另外一种测试原理图。图 4也是AAT1146的测量结果。 D1和 D2 采用 EC21QS03L.。C2 是10uF 电解电容. 测量条件同上。
图3: Diode+NMOS structure
图4:AAT1146 Line Transient Response using method 2
|
描述 |
值 |
C1 |
Electrolytic Cap 2200uF 16V |
2200uF |
C2 |
Electrolytic Cap 10uF 16V |
10uF |
R1 |
Res 0.5Ohm 5W |
0.5 Ohm |
     注意:评估板或测试板的Vin和Gnd上的导线应够粗够短,焊接良好,以降低信号噪声。
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